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產品名稱: ZH420型便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭
產品型號: ZH420
產品展商: 國產
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ZH420型便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭 貨號：ZH420 產品簡介   1、半導體材料電阻率的及標準測試方法。 2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。 3、電阻率測量范圍復蓋常用的區段：0.01—199.9Ω·cm 。      方塊電阻測量范圍復蓋常用的區段：0.1—1999Ω/□。 4、配置高精度恒流源，測量電流穩定，分兩檔：1mA、10mA，每檔**在大范圍內調節（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。 5、測量精度高：電器測量精度優于0.3%；      整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標準硅片誤差≤±3%。      測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標準硅片誤差≤±5%。 6、重量輕，約2.5kg；體積小：240×210×100（mm）。 7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。     上一條：智能煙氣采樣儀 下一條：兩探針電阻率測試儀ρ：0.005～50000Ω•cm

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