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WJ-100A微波光電導載流子復合壽命測試儀_少子壽命測定儀（測片）
WJ-100A微波光電導載流子復合壽命測試儀_少子壽命測定儀（測片）產(chǎn)品簡介：
微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及標準GB/T 26068-2010設計制造。
微波光電導載流子復合壽命測試儀采用微波反射*接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測量，提供*接觸、*損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體的重要檢測項目。
微波光電導載流子復合壽命測試參數(shù)：
讀數(shù)方式：數(shù)字直讀
壽命測量范圍：0.25μs-10ms
樣品電阻率下限>0.5Ω·cm
高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀備注：WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀用于測量片狀樣品，測量棒狀樣品選用WJ-100B型微波光電導載流子復合壽命測試儀！