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LT-1B高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀_少子壽命測定儀
少子壽命測定儀產(chǎn)品簡介：
高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀儀器采用GB/T1553-1997中硅單晶少數(shù)載流子壽命測定高頻光電導(dǎo)衰減法，主要用于測量高阻長壽命單晶，現(xiàn)在已經(jīng)在半導(dǎo)體材料有限公司、研究所、峨嵋半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體材料有限公司等投入使用。
少子壽命測定儀參數(shù)：
測試單晶電阻率范圍：ρ﹥2Ω?cm
可測單晶少子壽命范圍：5μs~10000μs
紅外光源配置： 波長1.06～1.09μm
儀器測量重復(fù)誤差：﹤±25%
測量方式：采用數(shù)字示波器直接讀數(shù)方式
消耗功率：﹤50W
工作條件：
溫 度：10-35℃
濕 度：﹤65%
使用電源：AC220V 50HZ（建議配置穩(wěn)壓電源）
可測單晶尺寸：
斷面豎測：
直 徑：25mm-150mm
厚 度：2mm-500mm
縱向臥測：
直 徑：5mm-20mm
長 度：50mm-800mm
高頻振蕩源：用石英諧振器，振蕩頻率30MHZ
前置放大器，放大倍數(shù)約25，頻寬2HZ-2MHZ
可根據(jù)已知壽命樣品調(diào)校測量壽命值，可調(diào)范圍廣